设置

关灯

第74章 测到了!我测到了!一整块,直接测定!(第2节)

和时间。

现在对方直接拿出一大堆的材料,每一块都比指甲盖大,封装的一大箱子,怎么也有二十几盒材料样本吧?

洪振宇顿时反应过来,惊讶的问道,“你们是找到让锡烯稳定生长的方法了?”

其他人顿时认真起来。

“这些谈不上稳定生长吧?”

朱炳坤看了眼箱子,不在意的说道,“我们进行大规模的实验,每一次实验都能造出一点,就攒了很多……”

这些材料样本都是大规模实验的产物,可谈不上什么稳定生长。

在圈定框架内进行实验,锡烯的成材率相对高了一些。

平均每一次的实验产物,就能提取指甲盖大小的一块可测定锡烯薄膜样品。

他们正在研究的‘多层锡烯薄膜’材料,才能算是稳定生长,一整块材料去除不稳定的边缘后,都是‘多层锡烯薄膜’。

两个材料也是不同的。

箱子里的样品是超薄的锡烯薄膜,有些位置甚至只有几个原子层,还可能存在单原子层,薄到根本看不清楚。

超薄的锡烯薄膜材料,有位置可以明显测定到拓扑边缘态现象,也能测定到微弱的伊辛超导信号。

而正在研究的‘多层锡烯薄膜’,原子层数更多,已经是常规‘三维’材料’。

原子层数变多,超导特性就更加明确,就能够直接测定到伊辛超导现象。

拓扑边缘态特性则正好相反,层数变多,原子层和原子层不完美堆迭会直接影响到材料内部的绝缘特性。

他们的实验也是希望构建出原子层完美堆迭的‘多层锡烯薄膜’材料。

材料内部出现稳定的绝缘特性,也就展示出了拓扑边缘态现象。

拓扑边缘态,决定了常温100%导电率。

超薄的锡烯样本拥有拓扑边缘态特性,但因为组成极不稳定,有的地方是双原子层,有的地方则是更多层,还有位置材料会粘黏在一起,就

本章未完,请点击"下一页"继续阅读! 第2页 / 共7页